基本信息
| 标准名称： | 半导体集成电路文字符号 电参数文字符号 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
微电路 >>
半导体集成电路 |
| 替代情况： | 调整为SJ/T 10734-1996 |
| 发布日期： | |
| 实施日期： | 1983-10-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版日期： | |
| 页数： | 14页 |
适用范围
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前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路
【英文标准名称】:Metallicmaterials-Rockwellhardnesstest-Part3:Calibrationofreferenceblocks(scalesA,B,C,D,E,F,G,H,K,N,T)(ISO6508-3:2005);EnglishversionofDINENISO6508-3:2006-03
【原文标准名称】:金属材料.洛氏硬度试验.第3部分:基准块的校准(A、B、C、D、E、F、G、H、K、N、T刻度)
【标准号】:ENISO6508-3-2005
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2006-03
【实施或试行日期】:
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:校正;控制样品;设计;测定;尺寸;硬度试验表;硬度;硬度测量;硬度测试仪;压印硬度;极限偏差;作标记;材料试验机;材料试验;材料;测量;测量设备;测量不确定度;机械试验;金属的;金属材料;金属;穿透深度;生产;标准块;基准;洛氏(硬度);洛氏硬度;洛氏硬度测量;试样;刻度;规范(验收);试验周期;试验设备;试验力;试验;试验条件;公差(测量)
【英文主题词】:Calibration;Controlsamples;Design;Determination;Dimensions;Hardeningtestsheets;Hardness;Hardnessmeasurement;Hardnesstesters;Indentationhardness;Limitdeviations;Marking;Materialtestingmachines;Materialtests;Materials;Materialstesting;Measurement;Measuringequipment;Measuringincertainity;Mechanicaltesting;Metallic;Metallicmaterials;Metals;Penetrationdepths;Production;Referenceblocks;Referencestandards;Rockwell;Rockwellhardness;Rockwellhardnessmeasurement;Samples;Scales;Specification(approval);Testcycle;Testequipment;Testforces;Testing;Testingconditions;Tests;Tolerances(measurement)
【摘要】:
【中国标准分类号】:H22
【国际标准分类号】:19_060;77_040_10
【页数】:19P.;A4
【正文语种】:英语