DIN 50454 T.1-1991 半导体工艺材料的检验.Ⅲ-Ⅴ化合物半导体单晶中错位腐蚀班点密度的测定.砷化镓
时间:2024-05-24 16:14:56 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：8060
【英文标准名称】:Testingofmaterialsforsemiconductortechnology;determinationofthedislocationsetchpitsdensityinmonocrystalsofIII-V-compoundsemiconductors;galliumarsenide
【原文标准名称】:半导体工艺材料的检验.Ⅲ-Ⅴ化合物半导体单晶中错位腐蚀班点密度的测定.砷化镓
【标准号】:DIN50454T.1-1991
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:
【英文标准名称】:CorrigendatoDINENISO11064-3:2000-09(ENISO11064-3:1999/AC:2002)
【原文标准名称】:DINENISO11064-3技术勘误
【标准号】:DINENISO11064-3Berichtigung1-2003
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2003-06
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:工作地点;中心领导办公室;控制间;自然工作条件;指示器;定义;房间结构;维修;控制板;工作系统;工作场所;操作台;工件配置;监视装置;布置;人类工效学;规范(验收);设计;站台设备
【英文主题词】:
【摘要】:ISO11064-3establishesergonomicprinciplesforthelayoutofcontrolrooms.Itincludesrequirementsrequirementsonroomlayouts,workstationarrangements,theuseofoff-workstationdisplaysandcontrolroomsmaintenance.
【中国标准分类号】:A25
【国际标准分类号】:13_180;25_040_40
【页数】:2P;A4
【正文语种】:德语
【英文标准名称】:InternalcathodicprotectionofmetallicstructuresCorrigendum1toEnglishversionofDINEN12499:2003-07
【原文标准名称】:金属结构的内部阴极保护.DINEN12499:2003-07的英文版本勘误表1
【标准号】:DINEN12499Corrigendum1-2006
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2006-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:A29
【国际标准分类号】:77_060
【页数】:2P.;A4
【正文语种】:德语